銅 アルミ ハステロイ インコネル SUS304等の大物非鉄金属加工お任せください

測定装置

画像寸法測定器

KEYENCE IM7500

非接触測定

半導体材料となるスパッタリングターゲットは、高純度の銅、錫、銀などが使用されます。
高純度マテリアルは硬度が非常に低く、ノギス等の測定工具でスパッタリングターゲットにキズをつけないよう、画像寸法測定器を使用した非接触測定を行います。

トレーサビリティ

プログラムにて設定箇所を自動計測。
高純度半導体材料などの量産製品に対し、全数測定、データ添付、データ保管・管理体制も構築しています。

面粗度計

IMG_0205

MITSUTOYO

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